# 惠然微电子发布双场景CD量测设备,晶圆代工精度管控或迎新选项
在晶圆制造向更先进制程推进的过程中,关键尺寸(CD)的量测精度正成为良率控制的决定性环节。
在晶圆制造向更先进制程推进的过程中,关键尺寸(CD)的量测精度正成为良率控制的决定性环节。近日,惠然微电子宣布推出其首台支持双场景应用的高端CD量测设备。该消息经由行业媒体发布,标志着这家设备供应商在半导体前道量测领域迈出关键一步。尽管本次公告未披露具体技术参数与商业条款,但其产品定位直指当前晶圆代工与先进封装对在线检测设备日益严苛的需求。值得关注的是,这一布局可能为长期由国际厂商主导的CD-SEM市场增添本土竞争变量。 ## 设备发布